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日本日置HIOKI 3541微电阻计的性能：
- 广范围测量 最低0.1μΩ（20.00mΩ），最高110MΩ
- 快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异)
- 补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能
- 运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计
- 具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可达到印字功能。
- 宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计
日本日置HIOKI 3541微电阻计的基本参数
| 测量电阻 |
20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,最小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, 最小分辨率: 10μΩ |
| 显示 |
20m～20kΩ时,最大显示值200000, 100k～100MΩ时,最大显示值110000, LED显示 |
| 精度 |
（SLOW2） ±0.007% rdg. ±15dgt.（2k/20kΩ）,在慢挡模式下: ±0.011% rdg. ±100dgt.（2～2kΩ） |
| 测量电流 |
DC 1A～100nA, 在慢挡模式下: DC 10m～10μA |
| 开路端子电压 |
DC 5V（20/200m）, 2.6V（2～20k）, 13V（1M～100M）,在慢挡模式下: 60mV |
| 采样速度 |
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快速 |
中速 |
低速 1 |
低速 2 |
| 50Hz |
0.6ms ± 0.3ms
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21ms ± 1ms |
155ms ± 5ms |
455ms ± 10ms |
| 60Hz |
0.6ms ± 0.3ms |
17ms ± 1ms |
149ms ± 5ms |
449ms ± 10ms |
| 应答时间（纯电阻时）：上记采样时间+约1ms（根据设定内容、试料的不同,会有差异） | |
| 测量温度 |
（9451） －10.0℃～99.9℃（－10.0～39.9℃: ±0.45% rdg. ±0.8℃, 40.0～99.9℃: ±0.45% rdg. ±1.5℃） |
| 温度补正功能 |
任何温度（9451或是温度探头）,?任何材質都可进行补正电阻数值换算（补正温度范围 －10.0～99.9℃） |
| 温度换算功能 |
具备因周围温度,卷线电阻值,而引起的卷线温度上升数值换算功能。 |
| 其它功能 |
比测仪,最大可储存装填30种设定条件,分类（BIN）测量（10分类）, 统计演算, 补正偏置电压,迟延 , 平均 |
| 数子输入/输出 |
输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入: 设定条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS |
| 供应电源 |
AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max. |
| 体积于重量 |
215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg |
| 附件 |
9287夹式测试线× 1, 9451温度探头× 1, 電源线× 1,保险丝× 1, EXT I/O用插入式连接器× 1 | |
1397363482
